更新時(shí)間：2024-09-11
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥,綜合 |
菲希爾代理、X射線測厚儀XDL210
菲希爾代理特性：
X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)
由于測量距離可以調(diào)節(jié)（最大可達(dá) 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
通過可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測試
使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）
應(yīng)用：
鍍層厚度測量
大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
鉻鍍層，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
蘇公網(wǎng)安備32021402002648
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