SURTRONIC DUO泰勒霍普森是英國泰勒公司新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測量多種粗糙度參數(shù)：Ra Rz Rp Rv Rt Rz1max Rsk Rq Rku; Pa Pz Pp Pv Pt（ISO 4287標準）。
英國泰勒霍普森TAYLOR HOBSON新型可分離式Surtronic Duo是一種便攜式表面粗糙度測量儀，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸 LCD彩色屏幕上。駿展代理新型Surtronic DUO使用大容量充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和的現(xiàn)場測量。
泰勒霍普森SURTRONIC DUO新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設計可滿足不同的技術與工作環(huán)境要求。
泰勒霍普森粗糙度儀遇到故障了可以聯(lián)系我們，有需要的隨時聯(lián)系
蘇公網安備32021402002648
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